现货惠普4155B+HP4155A半导体参数测试仪
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产品描述

加工定制 销售范围全国各地 成色8~10成新 实际价格电议 产品特性操作简单

特性

· 4156C提供4个内置的高分辨率的源/监控单元(HPSMUs),两个电压源单元(VSUs)和两个电压监

控单元(VMUs)


· 1 fA 和0.2?UV的测试精度可满足开发新工技术和评价材料


· 全Kelvin,每个HRSMU有激励源、感应和接地端


· 完成准静态的电容对电压测试


· 自动提取处理参数而不需要人工操作屏幕光标


· 用极低泄漏的SMUs测量特有泄露特性


· 用集成的脉冲发生器和选择开关自动完成器件表征


· 用内置的应力模式完成晶片的可靠性测试


· 用图形用户界面完成“点击”测试


· 基于Windows环境的图形数据分析能力


· 旋钮扫描功能可以快速检验探针是否接触正常


· 待机模式不需要外部电源


· 触发模式可以同步AC/DC测试。


· IBASIC 用户功能可以绘图和分析数据。

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Agilent4156C精密半导体参数测试仪

Agilent4156C精密半导体参数测试仪是Agilent下一代的精密半导体参数测试仪,4156C为高级器件表

征提供了高精

顶 ji 参数分析的实验室平台。

较高的低电流、低电压分辨率和内置准静态CV测量能力,4156C还为以后和其他的测量仪器的扩展使用

提供了坚实基础。

41501B扩展测量能力到1A/200V,并给Agilent4156C增加一个低的噪声接地单元和双脉冲发生器。






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Development, design, production and sales in one of the manufacturing enterprises

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